Liaodong Radioactive Instrumentのすべてのカタログと技術パンフレット

1. 

   X RAY diffractometer TD-20

   3 ページ

2. 

   x ray diffractometer TD3500

   3 ページ

3. 

   silicon ingot sticking diffractometer

   3 ページ

4. 

   single crystal diffractometer

   2 ページ

5. 

   JF 2500 MODEL Diffractometer

   9 ページ

6. 

   x-ray flaw detector

   5 ページ

7. 

   Model YX-16 X Ray instrument for ingot sticking

   1 ページ

8. 

   Model YX-2F X Ray orientation instrument

   1 ページ

9. 

   Model YX-2 X-ray Orientation instrument

   1 ページ

10. 

    Mode J5 X-ray Tube

    1 ページ

11. 

    Model JF-5 single crystal diffractometer

    1 ページ

12. 

    Model JF-3 x-ray analysis instrument

    1 ページ

13. 

    Model JF-2 x-ray analysis instrument

    1 ページ

14. 

    YX-Z2 x-ray orientation instrument automatic type

    1 ページ

15. 

    YX-Z automatic model x-ray orientation instrument for ingot/wafer

    1 ページ

16. 

    YX-16F x-ray orientation instrument for ingot recheck after sticking

    1 ページ

17. 

    YX-16 model x-ray orientation instrument for ingot sticking automatic type

    1 ページ

18. 

    YX-16 model automatic x-ray orientation instrument for ingot-pre-slicing sticking

    1 ページ

19. 

    YX-11C model x-ray orientation instrument for ingot pre-polishing

    1 ページ

20. 

    YX-11A model x-ray orientation instrument for crystal ingot OF plane

    1 ページ

21. 

    YX-10A multi angle x-ray orientation instrument for crystal A, C,R,M plane

    1 ページ

22. 

    YX-10 model x-ray orientation instrument for sapphire bore

    1 ページ

23. 

    YX-9 model x-ray orientation instrument for single crystal pre-slicing sticking

    1 ページ

24. 

    YX-7M orinetation instrument for large size silicon ingot

    1 ページ

25. 

    YX-6Z model x-ray orientation instrument for silicon sticking

    1 ページ

26. 

    x-ray orientation instrument for ingot pre-slicing

    1 ページ

27. 

    x-ray orientation instrument for sapphire wafer

    1 ページ

28. 

    x-ray orientation instrument for silicon ingot sticking

    1 ページ

29. 

    x-ray diffractometer for seed crystal pre-slicing sticking

    1 ページ

30. 

    x-ray diffractometer for silicon wafer

    1 ページ

31. 

    x-ray diffractometer for silicon ingot/wafer

    1 ページ

32. 

    Full closed type x-ray orientation instrument

    1 ページ

33. 

    CE-model x-ray orientation instrument for ingot/wafer

    1 ページ

34. 

    x-ray orientation for silicon ingot 111 plane

    1 ページ

35. 

    YX model x-ray orientation instrument for ingot

    1 ページ

36. 

    x-ray orientation instrument for silicon ingot

    1 ページ

37. 

    YX-2 X- Ray Orientation Instrument for sapphire ingot/wafer

    1 ページ

38. 

    YX-2 x ray orientation instrument for silicon

    1 ページ

39. 

    x-ray tube

    1 ページ

40. 

    Laue camera model X-ray Crystal Analysis Instrument

    1 ページ

41. 

    JF-2 Model X-ray crystal analysis instrument

    1 ページ