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You may also be interested in
Sensor, Measuring system, Measuring device, Atomic force microscope, Microscope
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| ^ High-Speed Thickness Measurement p | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| thickness measurement using infrared light high resolution and accuracy suited forwafermeasurement up to five times fasterthan white light measurement up to ten times greater measuring range (up to 3.5 mm) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Thin Layer Sensor | ^ ForSemiconductorand High-Tech Products | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| spectrally resolved reflection measurement multi-layermeasurement of separate layers with nanometerresolution comprehensive database with parameters of semiconductors, oxides, etc. compilation of recipes for every measuringtask thickness mappingwith MicroProf® and MicroGlider® | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Technical Specifications | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| optionally 1 um ... 250 um. | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ^ Discoverthe Microcosm | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| The atomic force microscope (AFM) is a highly sensitive probe head that utilizes a piezo-scannerwith very high resolution. This enables you to reach far into the sub-nm-range. Besides surface topography measurement, various available measuring modes enable the determination of many different surface properties. The base configuration features the contact measuring mode. Due to the multi-sensorcapability of the MicroProf® and MicroGlider® systems, the AFM sensorcan be used in combination with the optical sensors and therefore the measuring range can be extended from a few um up to 600 mm. | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| «Aie,Lsiui.tJAi.ue=a | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| contact mode non-contact mode magnetic/electrostatic force elasticity mode friction/lateral force mode Kelvin probe mode liquid compatible | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| AFM measurement on a biological sample | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| oxide filmona wafer surface | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Technical Specifications | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| measurement of blood cells | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| the art of metrology™ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ++ research and development +++ incoming goods inspection +++ process optimization +++ production control +++ quality assurance +++ failure analysis ++- | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||